AOI的光源分為可見光檢測和X光檢測，不同的光源可以檢測不同的缺陷。 AOI還需要強大的軟件支持，因為各種缺陷需要不同的計算方法用電腦進行計算和判斷，藍膜AOI的應用主要是用於檢測半導體晶片表面缺陷，例如刮痕、污染、裂痕等。藍膜AOI也可以應用在其他高科技產業的研發、製造品管，例如3D堆疊技術、異質封裝技術、碳化矽晶圓、AiP載板、半導體先進封裝測試、Mini LED等。
藍膜AOI
藍膜AOI
藍膜AOI
藍膜AOI
詳細介紹
AOI的光源分為可見光檢測和X光檢測，不同的光源可以檢測不同的缺陷。 AOI還需要強大的軟件支持，因為各種缺陷需要不同的計算方法用電腦進行計算和判斷，藍膜AOI的應用主要是用於檢測半導體晶片表面缺陷，例如刮痕、污染、裂痕等。藍膜AOI也可以應用在其他高科技產業的研發、製造品管，例如3D堆疊技術、異質封裝技術、碳化矽晶圓、AiP載板、半導體先進封裝測試、Mini LED等。